Анотація до роботи:

Гахович С.В. Удосконалений метод діагностування цифрових пристроїв з використанням параметрів енерогодинамічного процесу при відновленні їх працездатності у військових ремонтних органах. - Рукопис.

Дисертація на здобуття наукового ступеня кандидата технічних наук за спеціальністю 20.02.14 – озброєння і військова техніка. Київський національний університет імені Тараса Шевченка, Військовий інститут. Київ, 2004 .

Дисертація присвячена розвитку теорії і практики технічного діагностування. У роботі дістав подальший розвиток метод діагностування цифрових типових елементів заміни (ТЕЗ) з мікропроцесорними великими інтегральними схемами. Відмінністю методу є використання двох різнорідних джерел діагностичної інформації.

Розроблена нова математична модель цифрового ТЕЗ, яка враховує особливості функціонування мікропроцесорних великих інтегральних схем. Розглянуті види дефектів елементів ТЕЗ на структурному і функціональному рівнях, особливості транспортування діагностичної інформації у відповідні контрольні точки.

З урахуванням визначених і обґрунтованих критеріїв доповнені і узагальнені правила формування тестових послідовностей, що покладені в основу методики формування тестових послідовностей для діагностування цифрових ТЕЗ. Методика передбачає скорочення кількості тестових послідовностей і наборів даних за рахунок використання двох джерел діагностичної інформації.

Розроблена структурна схема пристрою діагностування цифрових ТЕЗ, описане призначення і функціонування його складових елементів.

У дисертації наведене теоретичне узагальнення і нове вирішення наукової задачі, що полягає в розробці удосконаленого методу діагностування цифрових ТЕЗ з використанням параметрів ЕДП та вихідних реакцій ТЕЗ при відновленні їх працездатності у військових ремонтних органах.

При рішенні наукової задачі були отримані такі нові наукові результати:

– математична модель цифрового ТЕЗ з мікропроцесорними ВІС. Модель призначена для формалізованого опису функціонування цифрового ТЕЗ з урахуванням логіки роботи МП ВІС. Модель дозволяє за допомогою поетапної декомпозиції ТЕЗ на модулі визначити необхідну глибину діагностування. Вона описує процес отримання діагностичної інформації від двох джерел залежно від вхідних даних і функцій, які реалізують ТЕЗ і його окремі модулі. Розглянуті види дефектів логічних елементів дозволяють визначити їх вплив на перекручування значень діагностичних параметрів та урахувати їх у математичній моделі. Модель відрізняється від існуючих, що визначає її новизну, врахуванням двох джерел отримання діагностичної інформації. Модель є основою для подальшої розробки методу діагностування і методики формування ТП;

– удосконалений метод діагностування цифрових ТЕЗ з використанням параметрів енергодинамічного процесу. Метод призначений для визначення технічного стану цифрових ТЕЗ, пошуку і локалізації дефектних елементів на основі аналізу значень діагностичних параметрів. Метод визначає необхідні умови для отримання, обробки і аналізу діагностичної інформації, передбачає комплексне використання для прийняття рішення різнорідних груп діагностичних параметрів. Метод відрізняється від існуючих, що визначає його новизну, комплексним врахуванням довільної кількості різнорідних діагностичних параметрів, можливістю локалізації дефектних елементів з заданою глибиною і достовірністю при діагностуванні складних цифрових пристроїв, які містять мікропроцесорні ВІС;

– методика формування тестових послідовностей для діагностування цифрових ТЕЗ. Методика призначена для формування тестових послідовностей, які дозволяють визначити технічний стан ТЕЗ й отримати діагностичну інформацію від елементів ТЕЗ з визначеною глибиною діагностування. Новизна методики полягає в комплексному використанні при формуванні тестових послідовностей двох груп діагностичних параметрів від двох різнорідних джерел. В якості тестових послідовностей використовуються стандартні команди ТЕЗ. Використання двох джерел діагностичної інформації дозволяє розділити процес контролю технічного стану і локалізації дефектних елементів цифрових ТЕЗ, скоротити кількість тестових послідовностей і наборів даних.

Наукове значення роботи полягає в тому, що отримані наукові результати сприяють рішенню важливої задачі технічної діагностики – скороченню середнього часу діагностування при забезпеченні заданої глибини і достовірності діагностування цифрових пристроїв.

Практичне значення роботи полягає в тому, що отримані в ній наукові результати дозволять розробляти відносно прості та дешеві пристрої діагностування з подальшим їх застосуванням у військових ремонтних органах з метою підвищення ефективності функціонування системи технічного діагностування і ремонту радіоелектронних засобів озброєнь. Робота проводилась у відповідності з планом наукової роботи та планом науково-дослідної роботи “Діагностика”, які виконувались у Військовому інституті Київського національного університету імені Тараса Шевченка, а її результати впроваджені у ВАТ “Укрспецтехніка” та у навчальному процесі при підготовці військових фахівців.

Публікації автора:

1. Рєзніков М.І., Пампуха І.В., Гахович С.В. Аналіз видів дефектів мікропроцесорних великих інтегральних схем і умови їх прояву з урахуванням енергодинамічного процесу // Зб. наук. пр. КВІУЗ. Вип. №3. – К.: КВІУЗ, 2000. – С.142-149.

2. Рєзніков М.І., Пампуха І.В., Гахович С.В. Структурно-функціональна модель цифрового типового елемента заміни з урахуванням енергодинамічного процесу // Зб. наук. пр. КВІУЗ. Вип. №1. – К.: КВІУЗ, 2001. – С.126-133.

3. Чинніков Ю.В., Пампуха І.В., Гахович С.В. Приблизні методи оцінки надійності систем із знецінюваними і частково знецінюваними відмовами // Зб. наук. пр. ВІТІ НТУУ “КПІ”. Вип. №1. – К.: ВІТІ НТУУ “КПІ”, 2002. – С. 190-194.

4. Чинніков Ю.В., Вишнівський В.В., Гахович С.В. Урахування періодичності контролю в моделі системи з часовим резервуванням // Науково-технічний збірник. Вип. №13, – К.: ННДЦ ОТ і ВБ України, 2002. – С.64-67.

5. Вишнівський В.В., Гахович С.В., Катін П.Ю., Круценко В.В. Пристрій для діагностування цифрових ТЕЗ з використанням енергодинамічного процесу // “Вісник” Військового інституту Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Вип. № 6. – К.: КНУ ім. Т.Шевченка, 2003. – С. 70-74.

6. Захарчук О.В., Гахович С.В., Ольшанський В.В. Методика вибору функцій приналежності цифрових нечітких регуляторів в системах автоматичного управління // Зб. наук. пр. ВІТІ НТУУ “КПІ”. Вип. №3. – К.: ВІТІ НТУУ “КПІ”, 2003. – С. 44-53.

7. Гахович С.В. Методика побудови тестової послідовності для діагностування цифрових типових елементів заміни // Зб. наук. пр. ВІТІ НТУУ “КПІ”. Вип. №4. – К.: ВІТІ НТУУ “КПІ”, 2003.– С. 11–18.

8. Гахович С.В. Метод діагностування цифрових ТЕЗ // Зб. наук. пр. ВІТІ НТУУ “КПІ”. Вип. №4. – К.: ВІТІ НТУУ “КПІ”, 2004. – С. 24-30.

9. Пат. 32068 А Україна, МПК 6 G 06 F 9/22, G 06 F 11/30. Спосіб контролю технічного стану цифрових об’єктів діагнозу зі складною внутрішньою структурою: Пат. 32068 А Україна, МПК 6 G 06 F 9/22, G 06 F 11/30 / М.І. Рєзніков (Україна), І.В. Пампуха (Україна), В.М. Власюк (Україна), С.В. Гахович (Україна), О.Л. Мацьовитий (Україна). – №98126731; Заявл. 21.12.1998; Опубл. 15.12.2000; Бюл. № 7-II. – 2с.