Библиотека диссертаций Украины Полная информационная поддержка
по диссертациям Украины
  Подробная информация Каталог диссертаций Авторам Отзывы
Служба поддержки




Я ищу:
Головна / Фізико-математичні науки / Фізика твердого тіла


Сальников Вадим Олександрович. Фотоакустична спектроскопія нанометрових напівпровідникових структур: Дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.07 / НАН України; Інститут фізики. - К., 2002. - 147арк. - Бібліогр.: арк. 133-147.



Анотація до роботи:

Сальников В.О. Фотоакустична спектроскопія нанометрових напівпровідникових структур. – Рукопис.

Дисертація на здобуття наукового ступеня кандидата фізико-математичних наук за спеціальністю 01.04.07. – фізика твердого тіла. – Інститут фізики НАН України, Київ, 2002.

Дисертація присвячена дослідженню властивостей напівпровідникових структур з квантовими точками за допомогою фотоакустичної спектроскопії. В дисертації вперше експериментально показано, що для ансамблю поглинаючих світло термоізольованих часток властивий ефект фотогенерації звуку гігантської інтенсивності, який є наслідком локального перегріву фотозбуджених часток і релаксації енергії перегріву через генерацію пружних пульсаційних коливань. Виявлено і пояснено природу відмінностей спектральних і частотних залежностей амплітуди і зсуву фаз фотоакустичного відклику при газомікрофонній реєстрації сигналу кластерних фаз прямозонних напівпровідників в залежності від щільності діелектричних матриць. Виявлено “фіолетовий” зсув крайового поглинання нанофаз CdS і PbI2, який пояснено з позицій впливу квантово-розмірного ефекту в перенормування спектра електронних збуджень. Запропоновано новий метод визначення коефіцієнта температуропровідності, за допомогою якого показано, що для шарів пористого кремнію при пористості 70 %, значення коефіцієнта температуропровідності тотожне відповідному для SiO2.

Отримані результати поглиблюють розуміння фізичних процесів, які протікають в ансамблі фотозбуджених напівпровідникових наночасток, та засвідчують перспективність використання фотоакустичної спектроскопії як методичної бази для вивчення властивостей цього класу матеріалів.