Анотація до роботи:

Кшевецький О.С. Фізичні методи та пристрої для визначення реальної структури кристалів Х-променевою багатохвильовою дифракцією. - Рукопис. Дисертація на здобуття наукового ступеня кандидата фізико-математичних наук за спеціальністю 01.04.01 - Фізика приладів, елементів і систем. – Інститут термоелектрики Національної академії наук України та Міністерства освіти і науки України. Чернівці, 2004.

Дисертація присвячена подальшому розвитку методів дво- та багатохвильної дифракції Х-променів з метою дослідження структурних змін у кристалах, підданих дії різних зовнішніх сил. На основі розроблених методик шляхом функціонального вибору профілю одновимірних деформацій та оптимізації його параметрів проведено моделювання і співставлення експериментальних і теоретичних дифракційних картин, отриманих за допомогою методу Коселя та кривих дифракційного відбивання. Проведено комплексне дослідження впливу умов росту, одновісного стискування та температурного охолодження синтезованих кристалів алмазу на формування профілів ліній Коселя. Для підвищення інформативності, чутливості, експресності та достовірності методу Коселя розроблено методи та відповідні пристрої для цифрової обробки топографічних зображень дво- та багатохвильових областей розсіяння Х-променів. На основі методів чисельного розв’язку системи рівнянь Такагі проведено дослідження механізмів та закономірностей формування профілів розподілу інтенсивності у дво- та багатохвильових областях дифракції широкорозбіжного пучка Х-променів на синтезованих кристалах алмазу, отриманих при різних технологічних умовах та підданих дії зовнішніх сил.