Михайлик Тетяна Аркадіївна. Еліпсометрія надграток і розупорядкованих поверхонь монокристалів GaAs I Si: Дис...канд. фіз.-мат. наук: 01.04.07 / НАН України ; Інститут фізики напівпровідників. - К., 2000. - 160 арк. - Бібліогр.: арк. 147-159.