Дисертаційна робота присвячена вивченню асимптотичної поведінки Simex-оцінки у моделях регресії з похибками у змінних. Зокрема, розглянуто лінійну, поліноміальну та загальну нелінійну моделі регресії. У дисертаційній роботі розглянуто три модифікації методу Simex для лінійної структурної моделі регресії з похибками у змінних. Показано, що ці оцінки є близькими до відомих конзистентних оцінок, доведено конзистентність та асимптотичну нормальність модифікацій Simex-оцінок для явної моделі регресії і доведено конзистентність модифікації Simex-оцінки для неявної моделі регресії. Результати моделювання ілюструються емпіричною щільністю розподілу оцінок. Побудовано Simex-оцінку для поліноміальної моделі регресії з похибками у змінних. Доведено конзистентність побудованої Simex-оцінки, крім того, побудовано модифіковану оцінку так, що вона показує хороші чисельні результати для малих вибірок і не втрачає асимптотичних властивостей для великих вибірок. Результати моделювання підтверджують теоретичні викладки. Обгрунтовано застосування поліноміальної екстраполяційної функції для побудови Simex-оцінки в загальній нелінійній моделі регресії з похибками в змінних. Ключовою ідеєю є застосування розкладу за формулою Тейлора граничних значень наївних оцінок за степенями дисперсії похибки у регресорах. Показано, що асимптотичним відхиленням Simex-оцінки від істинного значення невідомого параметра можна знехтувати у порівнянні з дисперсією похибки вимірювання, в той час як відхилення наївної оцінки від істинного значення параметра є асимптотично пропорційним до дисперсії похибки вимірювання. Результат, отриманий для нелінійної моделі регресії, застосований до задачі помилкової класифікації бінарного регресора. Побудовано таку екстраполяційну модель, що асимптотичним відхиленням Simex-оцінки від істинного значення параметра можна знехтувати у порівнянні з нормою відхилення матриці міскласифікації від одиничної матриці. Результати даної дисертаційної роботи можуть знайти практичне застосування в задачах економетрики і при аналізі біометричної інформації. |